現(xiàn)代科技的迅速發(fā)展，也促進了X熒光光譜儀的提升和進步。X熒光光譜儀運用到的X射線熒光法，一直是元素分析的重要方法。它可以應(yīng)用在樣品涂鍍層厚度及成分分析，而且十分受生產(chǎn)廠家的喜愛。今天就跟著創(chuàng)想小編來了解一下吧。
1.貴金屬、珠寶首飾：黃金分析，貴金屬合金分析，珠寶鍍層分析，鉑金上的銠鍍層分析;
2.鋼鐵、五金電鍍：鋼材鍍鋅/鉻、鋁材鍍鋯/鈦、哈式合金鍍層厚度測定;
3.裝飾材料：裝飾涂層分析
4.電子電器：PCB印刷電路板，金手指及連接器上Au/Ni/Cu、Au/Pd/Ni/Cu厚度分析、可焊性能分析如Ag/Cu/Epoxy，RoHS指令合規(guī)檢查;
5.新能源/鋰電：電池薄膜吸收層(如CIS, CIGS, CdTe)的成份分析，通過鍍層厚度分析優(yōu)化導(dǎo)電性能;
6.微電子、半導(dǎo)體：貼片電子元器件、太陽能電池、焊點、高精度感應(yīng)芯片、柔性線路板、磁性介質(zhì)的成分檢測和RoHS指令合規(guī)檢查;
7.防腐涂層：涂層厚度及組分分析;
以上就是小編給大家整理的全部內(nèi)容，希望對大家有幫助。
創(chuàng)想X熒光光譜儀