臺(tái)式X熒光光譜儀現(xiàn)如今已經(jīng)成為眾多領(lǐng)域的普遍檢測(cè)方法，可以迅速篩查多種類(lèi)樣品基質(zhì)如固體、泥漿、粉末、糊狀物、薄膜、空氣過(guò)濾物以及其它很多基質(zhì)樣品中的未知成分。影響X熒光光譜儀測(cè)量度的因素有很多，比如有儀器本身的性能、工作曲線(xiàn)、測(cè)試樣品和測(cè)試方法等。接下來(lái)小編給大家簡(jiǎn)單的介紹下。
X熒光光譜儀的測(cè)量度受到多種因素的影響，包括
樣品制備和樣品自身：樣品的均勻性、表面效應(yīng)、粒度和處理方法、存在的譜線(xiàn)干擾、本身的共存元素影響即基體效應(yīng)、樣品的性質(zhì)以及標(biāo)準(zhǔn)樣品的化學(xué)值的準(zhǔn)確性等。
樣品物理狀態(tài)：樣品的顆粒度、密度、光潔度，樣品的沾污、吸潮，液體樣品的受熱膨脹，揮發(fā)、起泡、結(jié)晶及沉淀等。
樣品組分分布：樣品組分的偏析、礦物效應(yīng)等。
樣品組成不一致：引起吸收、增應(yīng)的差異造成的誤差。
被測(cè)元素化學(xué)結(jié)合態(tài)的改變：樣品氧化，引起元素百分組成的改變；輕元素化學(xué)價(jià)態(tài)不同時(shí)，譜峰發(fā)生位移或峰形發(fā)生變化引起的誤差。
制樣操作：在制樣過(guò)程中的稱(chēng)量造成的誤差，稀釋比不一致，樣品熔融不完全，樣品粉碎混合不均勻，用于合成校準(zhǔn)或基準(zhǔn)試劑的純度不夠等。
工作曲線(xiàn)：工作曲線(xiàn)是指元素之中X射線(xiàn)的強(qiáng)度及樣品當(dāng)中蘊(yùn)含的百分質(zhì)量、含量關(guān)系的曲線(xiàn)，以工作曲線(xiàn)能夠獲取測(cè)量特性是X射線(xiàn)強(qiáng)度實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)化成濃度，所以在測(cè)量結(jié)果受到工作曲線(xiàn)較大的影響。其不僅和待測(cè)元素、濃度、校正元素因子、增強(qiáng)元素之間的吸收效應(yīng)等相關(guān)的校正值，還關(guān)系到工作曲線(xiàn)樣品的制作、是否存在偏移、適用范圍等。
因此，在使用臺(tái)式X熒光光譜儀進(jìn)行測(cè)量時(shí)，需要綜合考慮這些因素，以確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
創(chuàng)想臺(tái)式X熒光光譜儀